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GB/T 33922
作者：TECERT 发布于：2017-08-19 15:19:25 检测认证一站式服务 收藏：Ctrl+D
摘要：GB/T 33922-2017 MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法 联系我们：info@tecert.com 安排测试 / Contact us for testing.
| 国家标准编号 | 国家标准名称 | 实施日期 |
| GB/T 33922-2017 | MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法 | 2018/2/1 |
本标准规定了MEMS压阻式压力敏感芯片（简称压力敏感芯片）的术语和定义、试验条件、试验的一般规定、试验内容和方法。本标准适用于闭环和开环MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验。
