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GB/T 34002
作者:TECERT    发布于:2017-08-16 13:20:39    检测认证一站式服务    收藏:Ctrl+D
摘要:GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法 联系我们:info@tecert.com 安排测试 / Contact us for testing.
国家标准编号 实施日期
GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法 2018/6/1

本标准规定了透射电镜(TEM)在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构,例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或 X 射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。本标准适用于记录在照相胶片上、或成像板上、或数字相机内置传感。

 

脚注信息
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