服务搜索 SEARCH
YS/T 1160
作者：TECERT 发布于：2017-01-04 19:17:01 检测认证一站式服务 收藏：Ctrl+D
摘要：YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法 联系我们：info@tecert.com 安排测试 / Contact us for testing.
| 行业标准编号 | 行业标准名称 | 实施日期 | 标准主管部门 |
| YS/T 1160-2016 | 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法 | 2017/1/1 | 工业和信息化部 |
本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围：≥1%。
