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YS/T 581.10
作者:TECERT 发布于:2016-11-29 12:24:44 检测认证一站式服务 收藏:Ctrl+D
摘要:YS/T 581.10-2006 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第10部分:X射线荧光光谱分析法测定硫含量 联系我们:info@tecert.com 安排测试 / Contact us for testing.
标准号 | 标准名称 | 实施日期 | 发布单位 |
YS/T 581.10-2006 | 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第10部分:X射线荧光光谱分析法测定硫含量 | 2006/8/1 | 国家发展和改革委员会 |
本部分规定了氟化铝中硫含量(以硫酸根表示)的测定方法。本部分适用于氟化铝中硫含量的测定。测定范围:0.01%~2.00%。