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YS/T 666
作者：TECERT 发布于：2016-11-24 12:54:53 检测认证一站式服务 收藏：Ctrl+D
摘要：YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法杂质元素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 联系我们：info@tecert.com 安排测试 / Contact us for testing.
| 标准号 | 标准名称 | 实施日期 | 发布单位 |
| YS/T 666-2008 | 工业镓化学分析方法杂质元素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 2008/9/1 | 国家发展和改革委员会 |
本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。本标准适用于工业镓[99.9%≤ω（%）≤99.995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。
