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JB/T 5533
作者:TECERT 发布于:2016-11-13 09:44:38 检测认证一站式服务 收藏:Ctrl+D
摘要:JB/T 5533-2007 静电复印硒鼓 膜层附着力试验方法 联系我们:info@tecert.com 安排测试 / Contact us for testing.
标准号 | 标准名称 | 被代替标准 | 实施日期 | 发布单位 |
JB/T 5533-2007 | 静电复印硒鼓 膜层附着力试验方法 | JB/T 5533-1991 | 2008/3/1 | 国家发展和改革委员会 |
标准编号 | 标准名称 | 实施日期 | 状态 |
JB/T 5533-1991 | 静电复印硒鼓 膜层附着力试验方法 | 1992/7/1 | 作废 |
本标准规定了静电复印硒鼓膜层附着力的试验方法,其中包括:原理、设备、试样、试验步骤和试验报告。本标准适用于Se,Se-Te及Ae2Se3等类型硒鼓。