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GB/T 6351
作者:TECERT    发布于:2016-03-16 07:45:09    检测认证一站式服务    收藏:Ctrl+D
摘要:GB/T 6351-1998 半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 联系我们:info@tecert.com 安排测试 / Contact us for testing.
标准号 Standard No. 中文标准名称 Standard Title in Chinese 英文标准名称 Standard Title in English 状态 State 备注 Remark
GB/T 6351-1998 半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 Semiconductor devices--Discrete devices--Part 2:Rectifier diodes--Section One:Blank detail specification for rectifier diodes(including avalanche recti fier diodes),ambient and case-rated,up to 100A 现行 1999-06-01实施,代替GB 6351-1986

本空白详细规范规定了制定环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二级管)详细规范的基本原则,制定该范围内的所有详细规范应尽可能与本空白详细规范相一致。

Test Requirement 测试要求:

峰值电流为π倍时而定最大正向平均电流IF(AV)1时的电压最大值
方波峰值电流为而定正向平均电流IF(AV)2时的电压最大值
Tcase=25℃,无正向耗散时,反向电流
Tcase=规定高温,无正向耗散时,反向电流
雪崩击穿电压
外部目检
正向峰值电压
反向峰值电流
击穿电压
尺寸
引线弯曲
转矩
可焊性
快速温度变化
循环湿热
密封
电耐久性
耐焊接热
稳态湿热
高温贮存
恒定加速度

Sample Size 样品数量 / 送样规格:24pcs
Lead Time / TAT (Turn Around Time) 测试周期:常规服务 Regular service 7-9 working days

Report Summary 报告摘要:

 

脚注信息
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