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GB/T 5201
作者:TECERT 发布于:2016-03-15 12:17:54 检测认证一站式服务 收藏:Ctrl+D
摘要:GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法 联系我们:info@tecert.com 安排测试 / Contact us for testing.
标准号 Standard No. | 中文标准名称 Standard Title in Chinese | 英文标准名称 Standard Title in English | 状态 State | 备注 Remark |
GB/T 5201-1994 | 带电粒子半导体探测器测试方法 | Test procedures for semiconductor chargedparticle detectors | 废止 | 1995-10-01实施,代替GB 5201-1985 |
GB/T 5201-2012 | 带电粒子半导体探测器测量方法 | Test procedures for semiconductor charged particle detectors | 现行 | 2012年第13号公告 |
本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。