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GB/T 17421.10
作者:TECERT    发布于:2021-04-10 04:31:48    检测认证一站式服务    收藏:Ctrl+D
摘要:GB/T 17421.10-2021 机床检验通则 第10部分:数控机床探测系统测量性能的测定 联系我们:info@tecert.com 安排测试 / Contact us for testing.
标准编号 标准名称 实施日期
GB/T 17421.10-2021 机床检验通则 第10部分:数控机床探测系统测量性能的测定 2021/10/1

GB/T 17421的本部分规定了与数控机床装配成一体的接触式探测系统(离散点探测模式)测量性能评估的检测程序。  
  本部分不含其他型式的探测系统,如那些用于扫描模式或非接触式的探测系统。用于坐标测量机的机床性能评估也不在本部分范围内,这些性能涉及跟踪能力的问题,明显受机床几何精度影响。
  本部分规定的机床探测系统检测还可按GB/T 16857.2和GB/T 16857.5测定。
  数控机床的接触式探测系统在加工过程中应用如下:
——加工前检查工件是否正确安装;
——工件的定位和/或校准;
——加工后,工件仍在机床上对其进行测量;
——机床旋转轴线的定位和定向测量;
——切削刀具的设定和测量(刀具半径、长度和偏移);
——刀具磨损的测定。
注1:本部分主要针对加工中心而言,对于其他类型的机床,如车削和磨削中心,会在本部分以后的版本中涉及。
注2:本部分不涉及非接触测量(例如:光学测头),但是会在本部分以后的版本中涉及。

 

脚注信息
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