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GD/J 112
作者：TECERT 发布于：2020-10-10 10:03:29 检测认证一站式服务 收藏：Ctrl+D
摘要：GD/J 112-2020 音频分配器技术要求和测量方法 联系我们：info@tecert.com 安排测试 / Contact us for testing.
| 标准编号 | 标准名称 | 实施日期 |
| GD/J 112-2020 | 音频分配器技术要求和测量方法 | 2020/9/11 |
本技术文件规定了模拟音频分配器（提供线路信号的分配）和数字音频分配器的技术要求和测量方法。本技术文件适用于模拟音频分配器（提供线路信号的分配）和数字音频分配器的设计、生产、验收和运行维护。
Test Requirement 测试要求：
数字音频分配器
| 标准 / Standard | 项目/参数 / Test Items | 检测标准（方法） / Test Method tecert.com |
| 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 | 输出接口输出格式 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.1,5.2.1.1 |
| 输出接口输出电压 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.1,5.2.1.1 | |
| 输出接口抖动 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.1,5.2.1.1 | |
| 输出接口反射损耗 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.1,5.2.1.1 | |
| 输入接口输入格式 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.2,5.2.1.3 | |
| 输入接口采样频率 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.2,5.2.1.3 | |
| 输入接口最大输入电压 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.2,5.2.1.3 | |
| 输入接口最小接收灵敏度 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.2,5.2.1.3 | |
| 输入接口反射损耗 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.2,5.2.1.3 | |
| 数字音频格式 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.3,5.2.1.7 | |
| 介入增益 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.4,5.2.1.8 | |
| 信噪比（不加权） | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.4,5.2.1.8 | |
| 幅频特性 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.4,5.2.1.8 | |
| 总谐波失真加噪声 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.4,5.2.1.8 | |
| 通道间电平差 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.4,5.2.1.8 | |
| 通道间相位差 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.4,5.2.1.8 | |
| 通道间串音 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.1.4,5.2.1.8 |
模拟音频分配器
| 标准 / Standard | 项目/参数 / Test Items | 检测标准（方法） / Test Method tecert.com |
| 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 | 介入增益 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.2,5.2.2.1 |
| 信噪比（不加权） | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.2,5.2.2.1 | |
| 幅频特性 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.2,5.2.2.1 | |
| 总谐波失真加噪声 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.2,5.2.2.1 | |
| 通道间电平差 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.2,5.2.2.1 | |
| 通道间相位差 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.2,5.2.2.1 | |
| 通道间串音 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.2,5.2.2.1 | |
| 最大输入电平 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.2,5.2.2.1 | |
| 最大输出电平 | 音频分配器技术要求和测量方法 GD/J 112-2020 4.2,5.2.2.1 |
Sample Size 样品数量 / 送样规格: on request
Lead Time / TAT (Turn Around Time) 测试周期: 常规服务 Regular service 7-9 working days
Report Summary 报告摘要:
