本标准规定了两种低电压试验, 适用于搪瓷瓷层和金属基板缺陷的检测。方法A是一种基于电学或电声学的快速测试方法，可基本确定缺陷位置，适用于平面试样的检测；方法B是一种基于颜色效应的光学测试方法，可精确确定缺陷位置，适用于较复杂形状试样的检测。